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創新方案|如何完整擷取易變形材料的弧線

發表時間:2021-07-21 16:07:44 作者:思瑞瑕疵檢測 來源:www.tnemall.com 瀏覽:

針對易變性曲面輪廓度檢測難題,思瑞測量開創性地將高像素CCD光學影像和CWS非接觸式共聚焦白光傳感器整合:由CCD鏡頭負責定位基準和測量長、寬、孔位等平面尺寸,CWS負責測量3D輪廓度、厚度、平面度等空間尺寸。各取所長,火力全開。


CCD影像測頭系統快速定位,確保測量精度

創新的CCD光學影像尋邊方式測量工件邊緣,快速準確建立基準,閃測二維尺寸,包括HOME鍵、指紋鍵、攝像頭等孔位、槽直徑、R角位置以及玻璃2D尺寸等要素。

重復測量精度高。建立基準重復性提升至2um,內外長寬、孔位重復性提升至2-3um,坐標建立時間縮短至38s。CCD尋邊效率比接觸式探針尋邊,要快3-5倍,提高了檢測效率。


CWS白光測頭系統檢測是提高產線良率、提高競爭實力的關鍵

CWS非接觸式共聚焦白光傳感器,采用色階共聚焦白光探頭,可以準確完成空間尺寸數據的量測(輪廓度,厚度、平面度、R角尺寸)。

對于曲面材料邊沿較大角度的位置,光譜共焦位移傳感器可以獲得更大可測量區域。其非接觸采點方式,測量全程不產生碰觸,無需擔心任何外力影響下的接觸變形。  

通過自動旋轉測座,靈活的實現3D玻璃的各位置的非接觸式掃描。且具有連續掃描功能,無需逼近回退,最高達到1000點/秒,減少了測頭回退時間和感應時間,比傳統測量方式快3倍左右,遠比想象更強大。

并且,CWS系統解決了長久以來工件表面要求反光和透明材質的這一痛點,可輕松應對敏感、柔軟、色散、反射、傾斜、彎曲或者低對比度的表面反光材質或透明材質的光學難點測量。


創新方案|如何完整擷取易變形材料的弧線(圖1)


功能強大的方案軟件系統

RATIONAL DMIS軟件系統,擁有智能過濾功能,消除雜點,保證測量數據的穩定和一致性。多樣化的測量報告、spc數據統計、工藝改進提供支持等功能只需要輕松點擊鼠標即可實現。分析報告,直觀清晰。適用于產品分析,特殊位置展示等。

創新方案|如何完整擷取易變形材料的弧線(圖2)


廣泛的應用范圍

易變形曲面掃描檢測方案精度高,也非常適用于石墨模具測量。石墨模具不能有劃痕,對其表面光滑度要求很高,這種非接觸式的檢測設備正好滿足需求。

除此之外,它還可以檢測其它易變形產品:3D玻璃、2.5D玻璃、不規則彎曲玻璃等。塑膠、橡膠立體產品(接觸變形大、精度要求較高)。

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