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众所周知，接触式测头是三坐标测量时常见的标准配件，而光学测头则是影像仪采集工件信息的重要来源。光学触头和接触式测头是相互补充的关系，并不存在巨大的优劣之分。
下面，我们从三个方面来分析三坐标接触式测头和影像仪光学测头
三维光学测头分为三种不同的分类：点光源、线光源、面光源。通常根据不同的应用场景选择不同的测头，而影像仪光学测头的应用主要分为表面数字化和三维测量两大类，二者依据生成的是点云还是是三角网格进行区分。
影像仪光学测头具有测量速度快，曲面数据易获取；轻松测量柔软、易碎、不可接触、薄件、毛皮、变形细小等工件，无接触力，不会伤害精密表面。对于一些特殊的零件，光学测头的优势占据上风，能很好弥补了三坐标接触式测头在这一类应用上的不足。
说完影像仪光学测头相较于三坐标接触式测头有哪些优势，接下来谈谈接触式测头在实际应用时的优点，接触式测头具有测量精度高、可直接测量到工件特定的几何特征的优势，如一些径深很小、很细的孔时，光学测头的光线无法触及，但测针的测球部位可以去接触被测物体进行采点，；另外，一些需要L型测针的场合，接触式测头能很快的完成测量任务。
光学测量相对接触式测量而言，测量精度相对不是太高， 对于有陡峭面的工件，难以获取几何特征，在测量中会存在测量死角；工件表面与探头表面不是垂直，测量会存在一定误差；工件表面的明暗程度会影响测量的精度。
选择三坐标接触式测量需要逐点测量，速度慢测量前需做半径补偿，接触力大小会影响测量值，接触力会造成工件及探头表面磨损影响光滑度；倾斜面测量时，不易补偿半径，精度难以保证；测量工件内部时，形状尺寸会影响测量。
三坐标接触式测头与影像仪光学测头两者之间更多的是互相补充的关系，需要用户在认清自身应用场景下选择正确的测头。随着测量技术的不断发展与完善，许多非接触式测头也可以测量微观形貌，并且精度较高，复合式影像测量仪通过一台设备集成光学测头、接触式测头、激光测头，一次性测量全部要素，发展趋势不容小觑。
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